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日本雅马哈(YAMAHA)_外观检测机_LE2-610

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产品介绍规格参数包装清单产品评价

一、YAMAHA 外观检查机LE2-610产品特点:

1、X射线焊锡检查:对CSP、BGA等的底部电极也进行全品检查
2、三层顶灯高速检查:51毫秒/cm2(□每150mm区域约12秒、三层顶灯+X射线)
3、通过狭角激光检查Z方向
4、贴装机、印刷机、脱机协调:具有一次性转换贴装机数据、NG标记、图像保存、QA Option、QA跟踪等多功能
5、新增了检查设备元件、模块元件的专用选配件、DEVICE 10规格

 

 

二、YAMAHA 外观检查机LE2-610产品参数:

机型

YVi-X12H(型号:LE2-610)

対象基板

L50 x W50mm~L460 x W410mm

X射线源

显微测焦密闭式X射线管

X射线管电压

40~90kv

X射线输出功率

4~50W

X射线焦点直径

20μm

X射线分辨率

20μm(闪光板)

光学分辨率

20μm

检查视野尺寸

32 x 24mm

检查速度

X射线+光学3照明:51毫秒/cm2(392毫秒/视角)

光学1照明:25毫秒/cm2(192毫秒/视角)

激光分辨率

XY方向:1μm

Z方向:10μm

检查项目(硬化后)

元件错位、少印、极性、异物、角度错位、竖立

正反两面、(引脚)弯曲、桥接、文字识别、

焊锡圆角厚度(标准)、芯片浮起、(引脚)浮起(激光)、异物、焊锡球

(本公司条件下)

电源规格

単相AC 200/208/220/230/240 V ±10% 50/60 Hz

供气源

0.4MPa以上、清洁干燥状态

外形尺寸(注1)

L1,350×W1,580×H1,470mm(盖板上方)

主体重量

约1,920kg

(注1)不包括突起部分的尺寸。

DEVICE10规格(选配件)

X射线焦点直径

20μm

X射线分辨率

10μm(X射线CCD)

光学分辨率

10μm

检查视角尺寸

15 x 10mm

检查速度

X射线+光学3照明:1,333毫秒/cm2(2,000毫秒/视角)

光学1照明:100毫秒/cm2(192毫秒/视角)

 

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